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X射線鍍層測厚儀

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X射線鍍層測厚儀 
使用X熒光射線可以非接觸非破壞快速分析膜厚
* 兼容Microsoft Windows操作系統之軟件
* 可測單層, 多層 1-6層, 合金厚度及比例
* 藥水分析功能.
* 擁有多種 Filter 選擇性
* 定點自動定位分析
* 光徑對準全自動化
* 自動顯示量測參數
* 2D/3D, 任意位置量測控制
* 雷射對焦與自動定位系統
* 溫控穩定延長校準時效
* 20X 倍放大攝影系統.
* X-ray運作待命睡眠控制                                       
* 全進口美日系零件價格優勢以及快速服務時效
* 彩色區別量測數據,多重統計顯示窗口與報告編輯應用

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深圳市創思達科技有限公司(www.etimche.com)主營mm610孔銅測厚儀,mm615面銅測厚儀,mm805銅厚測量儀等產品
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